日本日置飞针测试仪 FA1283-日本日置

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●高精度接触,总探测精度为15μm(使用FA1971-01时)
●100点/秒的高速检测
●配备新型探头CP1702-01和软着陆控制,可加快精细图案检测速度
●能够通过5aF的高分辨率静电电容测量检测单个图案中的缺陷等微小变化(吸附阶段E4001作为静电容量测量的可选设置
日本日置飞针测试仪 FA1

 

用这个完成高性能裸板的电气检查

一个具有集成功能的单元,用于检查下一代的裸板 精度,速度,刻痕,测量追求各种规格的旗舰飞针测试

追求1微米

总探测精度□15μm(安装FA1971-01时) 针对φ10μm接触的高精度飞行探测仪

不要浪费一秒钟

非常重要的是,次检查应顺利启动,检查工作无需工时即可完成。 现场环境的组合将减少检查时间。 ●采用张力机构夹紧 ●激光基板厚度校正单元,可测量基板翘曲和“膨胀”,实现稳定接触 ●用于电容测量的吸气阶段(可选),用于检查无法夹紧的基板 ●可以选择离线模型和自动输送模型 ●FEB-LINE检测数据创建系统UA1781即使在复杂的设计中也能准确地提供数据

从简单的连续绝缘检测到LSI检测的高性能测量的单个单元 灵活的数据结构允许将900,000种类型的检查包含在一个检查数据中,因此所有检查都可以在单个检查数据上执行,例如4端子测量或部件测量,以及更改连续性/绝缘的判断标准。

电容板可用于高速O / S检查

“不要没有电气检查” 真空吸附阶段E4001,用于执行与基板形状无关的电容式O / S检查 高速检查可以进行稳定的检查,不依赖于电路板轮廓或电路板厚度。通过优化检查顺序(臂移动距离),检查在比电阻检查更短的时间内结束。

提高绝缘检查质量

检查过程中微小烧坏和ARC等检查机的绝缘检测能力直接导致产品质量。 绝缘检查配备100GΩ/ 10毫秒的超高速绝缘检测。 此外,它还包括微短路检测,ARC检测,极性检测,脉冲检测等,它具有许多保证高水平绝缘质量的功能。

“内部元件测量”使其与LCR测量区别开来

它是下一代裸板检测系统,它结合了通过安装板检测培养的元件测量技术。 除了MLCC测量等基本元件测量外,它还具有测量复杂电路的保护功能和超过在线测试仪的测量功能,如相分离测量。 另外,为了测试LSI的可靠性,实现诸如“电流消耗测试”和“漏电流测试”的专用模式。 它具有检查与LCR仪表不同的元件内置板的功能。可根据检查板选择各种变化。 来自全国各地的探测器Measers将直接咨询有关探测器和凹痕的问题

日本日置飞针测试仪 FA1283日本日置飞针测试仪 FA1283