●一台设备可以进行LCR测量，DCR测量，扫描测量的连续测量和高速检测
●在LCR模式下以速度高速测量1.5 ms（1 kHz）和0.5 ms（100 kHz）
●基本精度的高精度测量±0.08％
●非常适用于测试压电元件的共振特性，功能性聚合物电容器的CD和低ESR测量，电感器（线圈和变压器）的DCR和LQ测量等。 日本日置Hioki阻抗分析仪IM3570

阻抗分析仪
IM3570

测量频率：4Hz-5MHz 
阻抗分析仪

学术价格目标产品

●一台设备可以进行LCR测量，DCR测量，扫描测量的连续测量和高速检测 ●在LCR模式下以速度高速测量1.5 ms（1 kHz）和0.5 ms（100 kHz） ●基本精度的高精度测量±0.08％ ●非常适用于测试压电元件的共振特性，功能性聚合物电容器的CD和低ESR测量，电感器（线圈和变压器）的DCR和LQ测量等。 ●可在分析仪模式下进行频率扫描测量，电平扫描测量，时间间隔测量

阻抗分析仪IM3570测量方法：测量压电元件的谐振特性

如果IM3570具有一个LCR仪表和一个阻抗分析仪，则频率扫描测量和峰值比较器功能可确定谐振条件的质量，以及LCR模式下1 kHz或120 Hz的LCR测量检测。用一个单元实现频率扫描测量和LCR测量。

阻抗分析仪
IM3570

测量频率：4Hz-5MHz 
阻抗分析仪

学术价格目标产品

●一台设备可以进行LCR测量，DCR测量，扫描测量的连续测量和高速检测 ●在LCR模式下以速度高速测量1.5 ms（1 kHz）和0.5 ms（100 kHz） ●基本精度的高精度测量±0.08％ ●非常适用于测试压电元件的共振特性，功能性聚合物电容器的CD和低ESR测量，电感器（线圈和变压器）的DCR和LQ测量等。 ●可在分析仪模式下进行频率扫描测量，电平扫描测量，时间间隔测量

阻抗分析仪IM3570测量方法：测量压电元件的谐振特性

日本日置Hioki阻抗分析仪IM3570  日本日置Hioki阻抗分析仪IM3570

如果IM3570具有一个LCR仪表和一个阻抗分析仪，则频率扫描测量和峰值比较器功能可确定谐振条件的质量，以及LCR模式下1 kHz或120 Hz的LCR测量检测。用一个单元实现频率扫描测量和LCR测量。