●模拟测量时间的高速测量0.6 ms（1 MHz）
●改善了生产线的抗噪性和高重复性
●在1 kHz和1 MHz测量的低容量编带中，可以进行稳定的测量
●能够通过BIN测量进行分类 日本日置HiokiC计3506-10

C计
3506-10

测量频率1 MHz / 1 kHz C meter

●模拟测量时间的高速测量0.6 ms（1 MHz） ●改善了生产线的抗噪性和高重复性 ●在1 kHz和1 MHz测量的低容量编带中，可以进行稳定的测量 ●能够通过BIN测量进行分类

• 
• 
• 
• 

  

  C计
  3506-10

  测量频率1 MHz / 1 kHz C meter

  ●模拟测量时间的高速测量0.6 ms（1 MHz） ●改善了生产线的抗噪性和高重复性 ●在1 kHz和1 MHz测量的低容量编带中，可以进行稳定的测量 ●能够通过BIN测量进行分类

• 
• 
• 
• 

  

  C计
  3506-10

  测量频率1 MHz / 1 kHz C meter

  ●模拟测量时间的高速测量0.6 ms（1 MHz） ●改善了生产线的抗噪性和高重复性 ●在1 kHz和1 MHz测量的低容量编带中，可以进行稳定的测量 ●能够通过BIN测量进行分类

• 
• 
• 
• 

  

  C计
  3506-10

  测量频率1 MHz / 1 kHz C meter

  ●模拟测量时间的高速测量0.6 ms（1 MHz） ●改善了生产线的抗噪性和高重复性 ●在1 kHz和1 MHz测量的低容量编带中，可以进行稳定的测量 ●能够通过BIN测量进行分类

• 日本日置HiokiC计3506-10  日本日置HiokiC计3506-10