日本富士膜厚计HKT-Lite0.1-日本产品

供货周期 一个月 应用领域 电子/电气/通讯/半导体

无线轻便!即使在没有电源的地方也
能轻松测量0.1μm!可用于所有工业领域的测量,质量控制,节能等。
日本富士膜厚计HKT-Lite0.1

富士工作

薄膜厚度测量装置高性能兼容分辨率0.1

日本富士膜厚计HKT-Lite0.1-日本产品

 

 

薄膜厚度测量装置高性能支持0.1分辨率添加 产品评论

无线轻便!即使在没有电源的地方也
能轻松测量0.1μm!可用于所有工业领域的测量,质量控制,节能等。

使用 

[论文]印刷品,薄膜等[金属]薄壁底盘,铸件,圆筒,轴,圆盘等[采矿]粘土,水泥,沙子,陶瓷,石膏等[其他]玻璃,橡胶,表面粗糙材料和涂层剂的薄膜厚度测量

 

规范 

测量台:测量表面50 50(陶瓷)

 

电源 

纽扣型电池(CR2032)

 

分辨率(μm) 

0.1

 

测量范围(μm) 

0.1

 

触角 

联系anvil 908H(R31硬质合金球面)

 

重复性(μm) 

0.4(重复探头的顶部和底部)

 

输出端子 

RS-232C / USB

 

内容 

1个单位

 

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产品编号 
日本富士膜厚计HKT-Lite0.1-日本产品
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(不含税)
 
   
70824355 HKT-Lite0.1 24000  

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无线轻便!即使在没有电源的地方也
能轻松测量0.1μm!可用于所有工业领域的测量,质量控制,节能等。

使用 

[论文]印刷品,薄膜等[金属]薄壁底盘,铸件,圆筒,轴,圆盘等[采矿]粘土,水泥,沙子,陶瓷,石膏等[其他]玻璃,橡胶,表面粗糙材料和涂层剂的薄膜厚度测量

 

规范 

测量台:测量表面50 50(陶瓷)

 

电源 

纽扣型电池(CR2032)

 

分辨率(μm) 

0.1

 

测量范围(μm) 

0.1

 

触角 

联系anvil 908H(R31硬质合金球面)

 

重复性(μm) 

0.4(重复探头的顶部和底部)

日本富士膜厚计HKT-Lite0.1

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端子 

RS-232C / USB